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可扩充复合式测量系统
可扩充测量系统包括影像测量系统和激光扫描两部分，这两种系统可单独或同时配置任意一款手动或自动测量机上组成复合式测量系统。复合式测量系统已被广泛应用于包括汽车、航空航天、医疗器械、电子、机械加工、塑料制品、光学镜头、精密零件等在内的各行制造业，有效的解决了小、薄、软类零部件及特征多样工件的难装夹、难测量和测量效率低下等测量难题。通常，我们采用光学非接触测量解决微小尺寸的轮廓形状及位置测量，而对三维尺寸尤其是基准特征的测量，则采用接触式测量，是复杂小型零部件理想解决方案。 CCD影像测量技术要点 ·在现有测量系统基础上增设光学系统，让接触式测量机拥有投影仪、工具显微镜等多元化功能。影像测量与接触式测量完美结合，集投影仪、工具显微镜、二次元测量仪器和接触式三坐标优点于一身。 ·测量功能强大、快捷、方便、准确
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系统概述
可扩充测量系统包括影像测量系统和激光扫描两部分，这两种系统可单独或同时配置任意一款手动或自动测量机上组成复合式测量系统。复合式测量系统已被广泛应用于包括汽车、航空航天、医疗器械、电子、机械加工、塑料制品、光学镜头、精密零件等在内的各行制造业，有效的解决了小、薄、软类零部件及特征多样工件的难装夹、难测量和测量效率低下等测量难题。
通常，我们采用光学非接触测量解决微小尺寸的轮廓形状及位置测量，而对三维尺寸尤其是基准特征的测量，则采用接触式测量，是复杂小型零部件理想解决方案。
CCD影像测量技术要点
·在现有测量系统基础上增设光学系统，让接触式测量机拥有投影仪、工具显微镜等多元化功能。影像测量与接触式测量完美结合，集投影仪、工具显微镜、二次元测量仪器和接触式三坐标优点于一身。
·测量功能强大、快捷、方便、准确
·镜头：0.7～4.5倍变焦镜头
·CCD：40万像素工业摄像系统
·现场范围：7～1.1mm
·放大倍数：40～255倍
·光源：亮度可调环形顶光源
·CCD：40万像素工业摄像系统
·现场范围：7～1.1mm
·放大倍数：40～255倍
·光源：亮度可调环形顶光源
·激光扫描可以完成快速的高密度采点测量，特别是对于复杂曲面，激光扫描不仅可以快速取点，完成实际曲面与CAD数模的快速比对测量，还可对未知曲面快速扫描，是实现逆向工程的重要技术手段。
激光扫描技术要点 ·HEADER激光扫描测头全铝合金结构，在保证使用方便性的前提下可防止电磁干扰和意外环境影响。
• 景深Deplh=80mm
• 光条最小宽度L1=60mm
• 光条最大宽度L2=80mm
• 标准工作距离Dis=150mm
• 光条最小宽度L1=60mm
• 光条最大宽度L2=80mm
• 标准工作距离Dis=150mm
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测量型号
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LS60
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测量景深
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80mm
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重量
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420g
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标准工作距离
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150mm
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尺寸
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150×100×45mm
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测量精度
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40um
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接口方式
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PAA1或M8接口
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特征分辨率
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小于12um
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测量速度
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11500点/秒
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重复性
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小于6um
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单线密度
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768点/线
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激光等级
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2级（可见红外）
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最少测量宽度
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60mm
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激光波长
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650mm
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最大测量宽度
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80mm
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工作温度
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10-40℃
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本系列可选配测量系统，可根据客户具体需求定制设计开发欢迎联系和咨询，获取产品选型中的更多信息
关键词：
力德测量设备，高精度移动桥式三坐标测量机，移动桥式三坐标测量机，超大量程龙门式三坐标测量机，车间型超高速三坐标测量机
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